In-Line AOI

既に様々なFPD製造工程で活躍中の Optics 検査装置が更に進化を遂げ、Optics In-Line AOI  として、最高峰の性能を実現しました。

Optics In-Line AOI とは?
大型ディスプレイ製造ラインでは、 「生産性が高く、巨大投資に見合う利益を生み出す工場
は必須条件です。 そのためには、ワークの滞留を最少化にし、ショートTACTを実現する必要があります。 
そして、「 歩留まりを限りなく100%に近づけること 」 これが重要なのです。

Optics In-Line AOI は、インラインで高速・高精細な全数検査、全数レビューが可能です。

処理速度を2倍に、12,000画素を実現
この Optics In-Line AOI は、従来の独自開発による大規模画像処理用コンピュータシステムの処理速度を一挙に2倍に速めました。
従来7,500画素だった分解能を50%以上上げ、12,000画素を実現しています。
しかも取り込み速度を3倍以上の1秒間に30,000ラインという超高速性能のカメラを実現しました。

デジカメの10万倍の画像信号を取り込む
Optics はCCDラインセンサーからの画像信号を300GB取り込むことができます。
50万画素x60万画素で3,000億画素になります。デジカメは数百万画素ですから、およそ10万倍
その中に潜む1画素以下の欠陥をサブピクセル処理により見つけ出し、しかも、1分以内に実行することができます。

幅広い検査・観察に同一方式で対応
Optics は、幅広い検査に同一方式で対応することができます。

 
ガラス検査
 異物検査
 表面傷検査
 ピンホール検査
 生膜後検査
 
TFT検査
 画素&回路パターン検査
 周辺回路パターン検査
 
カラーフィルタ検査
 Black Matrix パターン検査
 突起欠陥検査
 スペーサ欠陥検査
 
後工程検査
 配向膜欠陥検査
 シール欠陥検査
 エッジ不良検査
 
ODF前検査
 異物検査、除去装置
 
 
 
 
 
 
 

 

検査機システムのTOPページへ
検査機システム事業案内のページへ
次世代液晶ラインに向けてのページへ
Defect-Free Lineのページへ
LOOCSのページへ
Inline AOIのページへ
製品情報のページへ
応用範囲のページへ
イベント情報のページへ
お問い合わせのページへ
KUBOTEK Homeのページへ
検査機システム:サイトマップのページへ
 

  OpticsPVのページへ

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 


 Copyright(C) 2007 KUBOTEK Corporation. All rights reserved.